Asiste hoy al Seminario de Microscopía Electrónica de Barrido Ambiental y de Bajo Vacío


El Laboratorio de Caracterización de Materiales Sintéticos y Naturales,

sección Microscopía, hace una cordial invitación al seminario:

Microscopía Electrónica de Barrido Ambiental y de Bajo Vacío,

que se llevará a cabo el jueves 9 de agosto, de 11:00 a 14:00 horas,
en el Aula 1 del Auditorio Bruno Mascanzoni.

 

 

“APLICACIONES DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Y RAYOS X EN GEOLOGÍA Y MATERIALES-ZEISS”

 

Se mostrarán las novedades en microscopía electrónica de barrido y microscopía de rayos X Zeiss, donde se muestran las mejoras de los detectores en eficiencia, los nuevos detectores y accesorios que hacen más eficiente la observación de muestras en SEM sin procesamiento alguno, incluyendo presión variable para muestras no conductivas. Asimismo, se abordarán las opciones de crecimiento del SEM y de conexión con otros equipos al usar la microscopía correlativa y atlas para muestras muy grandes, nueva tecnología en microscopía en rayos X.

 

LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES SINTÉTICOS Y NATURALES

“Los microscopios electrónicos de barrido TESCAN y aplicaciones en la industria petrolera y geología”

Se presentarán la tecnología e instrumentos más recientes TESCAN, funcionando en conjunto con innovadores detectores que dan una nueva perspectiva a la microscopía electrónica de barrido y sus aplicaciones en el área de la industria petrolera, así como en el campo de la geología.

 

 

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PROGRAMA
JUEVES 9 DE AGOSTO, 2018

11:00 -12:00 horas.  “Los microscopios electrónicos de barrido TESCAN y aplicaciones en la industria petrolera y geología”
Ing. Carlos Segovia, Director de Micra Nanotecnología.

12:00-12:40 horas. “La nueva microscopía electrónica de barridoZEISS”
Dr./PhD Marco A. Ramírez Olvera, Carl Zeiss México.

12:40-13:00 horas. Coffee break.

13:00-14:00 horas. “Microscopía correlativa, atlas y microscopía de RX”
Dr./PhD Marco A. Ramírez Olvera, Carl Zeiss México.

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Atentamente
Laboratorio de Caracterización de Materiales Sintéticos y Naturales,
sección Microscopía